tanδ是反映绝缘介质损耗大小的特性参数，与绝缘的体积大小无关。但如果绝缘内的缺陷不是分布性而是集中性的，则tanδ有时反映就不灵敏。被试绝缘的体积越大，或集中性缺陷所占的体积越小，集中性缺陷处的介质损耗占被试绝缘却不介质损耗的比重就越小，总体的tanδ就增加得越少，这样tanδ测量就不灵敏，因此，测量各类电器设备tanδ时，能分解试验得尽量分解试验，如测量变压器整体tanδ时，由于变压器整体绝缘提交比变压器套管大得多，套管得缺陷就不能灵敏反映出来。因此变压器还需单独测量套管的tanδ，套管的体积小，测量管的tanδ不仅可以反映套管的全面情况，而且有时可以反映其中的集中性缺陷。